2.5次元測量儀產(chǎn)品是二次元測量儀基礎(chǔ)上的升級版本,常規(guī)我們二次元都是對二維平面尺寸的產(chǎn)品檢測,但在日常工業(yè)中不少客戶單獨(dú)二維平面尺寸的測量無法滿足要求,還需要對產(chǎn)品臺階、深度的一個檢測,而買一臺三坐標(biāo)又過于的昂貴,基于多方因素市場上研發(fā)出2.5D光學(xué)測量以滿足相關(guān)客戶的特殊需求。下面分享關(guān)于2.5次元測量儀與三次元的區(qū)別嗎?的內(nèi)容,歡迎閱讀!
2.5次元測量儀與三次元的區(qū)別嗎?
其實,二次元、2.5次元測量儀、三次元是根據(jù)光學(xué)影像測量儀的空間維度測量而被命名的。
2.5次元測量儀是指在二次元的基礎(chǔ)上,用光學(xué)圖像測量可測高度和深度,或在鏡頭上加一根測量針,用光學(xué)鏡頭測量平面尺寸,用測量針接觸測量可測深度,從而達(dá)到三維測量的效果。然而,這種三維測量只是一種簡單的三維測量,并不能真正實現(xiàn)所有三維空間尺寸的測量,因此被稱為2.5次元。
三個坐標(biāo)稱為三次元,就像光學(xué)成像測量儀器稱為二次元一樣,因為三個坐標(biāo)通過X/Y/Z軸測量三維空間,因此稱為三坐標(biāo)。三個坐標(biāo)可以通過探頭測量大部分三維空間的尺寸。
二次元是指光學(xué)圖像測量儀器的二維測量,主要是光學(xué)2D平面的兩個維度,二次光學(xué)圖像測量儀器可以快速讀取光學(xué)尺的位移值。通過基于空間幾何圖形的軟件模塊操作,可以立即獲得所需的結(jié)果,并在屏幕上產(chǎn)生圖形,供操作員進(jìn)行圖形和陰影控制,從而直觀地區(qū)分測量結(jié)果可能出現(xiàn)的偏差。
2.5次元影像測量儀也側(cè)重于二維平面的測量,但在二次元素的基礎(chǔ)上增加了可測高度和深度。通過在透鏡上加一根測量針,用光學(xué)透鏡測量平面尺寸,用測量針接觸測量深度,達(dá)到三維測量的效果。然而,這種三維測量只是一種簡單的三維測量,并沒有真正實現(xiàn)所有三維空間尺寸的測量,因此被稱為2.5維。
三次元影像測量設(shè)備主要側(cè)重于三維數(shù)據(jù)的測量。工件的三維空間數(shù)據(jù)通過X/Y/Z軸進(jìn)行精確測量。通過探頭,三個坐標(biāo)可以真正實現(xiàn)大部分三維空間的尺寸測量。它是三維領(lǐng)域測量的主要應(yīng)用設(shè)備。
由于光學(xué)圖像測量儀的優(yōu)點是非接觸測量,它可以通過CCD測量容易變形的工件尺寸,因此與直接接觸測量相比,容易變形的工件測量具有明顯的優(yōu)勢。
感謝閱讀,以上就是對2.5次元測量儀與三次元的區(qū)別嗎?的介紹,部分內(nèi)容來自網(wǎng)絡(luò),僅供參考。如果您想了解更多有關(guān)2.5次元測量儀的詳細(xì)事宜,歡迎致電詳詢,竭誠為您服務(wù)。
2.5次元測量儀產(chǎn)品是二次元測量儀基礎(chǔ)上的升級版本,常規(guī)我們二次元都是對二維平面尺寸的產(chǎn)品檢測,但在日常工業(yè)中不少客戶單獨(dú)二維平面尺寸的測量無法滿足要求,還需要對產(chǎn)品臺階、深度的一個檢測,而買一臺三坐標(biāo)又過于的昂貴,基于多方因素市場上研發(fā)出2.5D光學(xué)測量以滿足相關(guān)客戶的特殊需求。下面分享關(guān)于2.5次元測量儀與三次元的區(qū)別嗎?的內(nèi)容,歡迎閱讀!
2.5次元測量儀與三次元的區(qū)別嗎?
其實,二次元、2.5次元測量儀、三次元是根據(jù)光學(xué)影像測量儀的空間維度測量而被命名的。
2.5次元測量儀是指在二次元的基礎(chǔ)上,用光學(xué)圖像測量可測高度和深度,或在鏡頭上加一根測量針,用光學(xué)鏡頭測量平面尺寸,用測量針接觸測量可測深度,從而達(dá)到三維測量的效果。然而,這種三維測量只是一種簡單的三維測量,并不能真正實現(xiàn)所有三維空間尺寸的測量,因此被稱為2.5次元。
三個坐標(biāo)稱為三次元,就像光學(xué)成像測量儀器稱為二次元一樣,因為三個坐標(biāo)通過X/Y/Z軸測量三維空間,因此稱為三坐標(biāo)。三個坐標(biāo)可以通過探頭測量大部分三維空間的尺寸。
二次元是指光學(xué)圖像測量儀器的二維測量,主要是光學(xué)2D平面的兩個維度,二次光學(xué)圖像測量儀器可以快速讀取光學(xué)尺的位移值。通過基于空間幾何圖形的軟件模塊操作,可以立即獲得所需的結(jié)果,并在屏幕上產(chǎn)生圖形,供操作員進(jìn)行圖形和陰影控制,從而直觀地區(qū)分測量結(jié)果可能出現(xiàn)的偏差。
2.5次元影像測量儀也側(cè)重于二維平面的測量,但在二次元素的基礎(chǔ)上增加了可測高度和深度。通過在透鏡上加一根測量針,用光學(xué)透鏡測量平面尺寸,用測量針接觸測量深度,達(dá)到三維測量的效果。然而,這種三維測量只是一種簡單的三維測量,并沒有真正實現(xiàn)所有三維空間尺寸的測量,因此被稱為2.5維。
三次元影像測量設(shè)備主要側(cè)重于三維數(shù)據(jù)的測量。工件的三維空間數(shù)據(jù)通過X/Y/Z軸進(jìn)行精確測量。通過探頭,三個坐標(biāo)可以真正實現(xiàn)大部分三維空間的尺寸測量。它是三維領(lǐng)域測量的主要應(yīng)用設(shè)備。
由于光學(xué)圖像測量儀的優(yōu)點是非接觸測量,它可以通過CCD測量容易變形的工件尺寸,因此與直接接觸測量相比,容易變形的工件測量具有明顯的優(yōu)勢。
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